Wettbewerbsvorteil in der Photovoltaikindustrie – Optische Oberflächenmesstechnik optimiert Fertigung neuer Solarwafer-Generationen

Die zerstörungsfreie Charakterisie­rung von Oberflächenstrukturen auf Solarwafern ist von immer größerer Bedeutung, denn sie kann Lösun­gen für viele Fragestellungen und konkrete Anwendungen bieten. Von der Entwicklung bis in die Produk­tion: Der Bedarf für hochauflösende Messtechnik erstreckt sich entlang der gesamten Wertschöpfungskette. Als Faustregel gilt, je weiter die Struktu­rierung im Bearbeitungsprozess fort­schreitet, desto mehr Informationen werden... weiterlesen →

Die MicroGlider® Serie – sensationell sensitiv

In praktisch allen Bereichen der industriellen oder manuellen Fertigung spielt die Beschaffenheit von Oberflächen eine zentrale Rolle. Ob ein Werkstoff für seine spätere Verwendung optimal ist, kann man nicht der Erfahrung überlassen. Zum Beispiel bei der Herstellung von optischen oder medizintechnischen Komponenten kann das fatale Folgen haben. In solchen Fällen müssen Messgeräte eingesetzt werden, die... weiterlesen →

Vielseitigkeit für Labor und Produktion – Konfokale und interferometrische Messtechnik in einem

FRT bietet die optimale Lösung für Anwender denen reine Konfokalmikroskopie für ihre Messaufgaben nicht ausreicht. „Dual Technology“, kurz DT, diese Buchstaben sollen die besondere Stärke des vielseitigen Oberflächensensors CFM DT signalisieren: die Kombination eines Spinning-Disc Konfokalmikroskops (CFM) mit einem Weißlichtinterferometer (WLI). Durch diese Verbindung werden die Vorteile beider Messverfahren geboten. Die sehr hohe vertikale Auflösung... weiterlesen →

Hoch präzise Dicken- und TTV-Messung für die Waferherstellung

Sägen, Schleifen, Läppen, Polieren... Das sind die typischen Bearbeitungsschritte, die vom Ausgangsprodukt „Ingot“ zu qualitativ hochwertigen Wafern führen. Hersteller in den Bereichen Mikroelektronik, Mikrosystemtechnik und Photovoltaik stellen hohe Anforderungen an die Fertigungstoleranzen des Vorprodukts „Wafer“, da bereits geringe Abweichungen die Qualität in den nachgelagerten, kostenintensiven Prozessschritten negativ beeinflussen können. Die Folge sind Einbußen bei der... weiterlesen →

Berührungslose Metrologie-Lösungen für Front- und Back-End

Der Trend der Technologie zu immer kleineren elektronischen Geräten erfordert neue Ansätze in der Fertigung von Wafern. Zunehmend komplexere Strukturen auf größeren Substraten erfordern eine intensivere Fertigungskontrolle und stellen somit neue Anforderungen an moderne Messinstrumente. Neben der Genauigkeit und Wiederholpräzision sind heute Vielseitigkeit oder Prozessintegrationsmöglichkeiten die entscheidenden Faktoren. Der Schlüssel heißt Multi-Sensor Technologie. Wir sind... weiterlesen →

FRT Messgeräte helfen bei der Realisierung ambitionierter Roadmaps in der Saphir und LED Industrie

Was auch immer produziert wird, ganz gleich aus welchem Material und in welchen Mengen – einwandfreie Qualität wird nur durch gleichbleibend hohe Perfektion erreicht. Und diese muss laufend kontrolliert werden. Sensorik und Messtechnik können in der Prozesssteuerung helfen die Produktivität zu steigern und dadurch Produktionskosten zu senken. FRT-Messtechnik schafft optimale Voraussetzungen, um die einzelnen Schritte... weiterlesen →

Vollumfassender Service garantiert Kundenzufriedenheit  

  Die FRT GmbH bietet 3D-Oberflächenmesstechnik für die Forschung, Produktion und Qualitätssicherung. Mit Mikro- und Nanometerauflösung liefern die mehrfach ausgezeichneten Messsysteme berührungslos und zerstörungsfrei, sowie wahlweise vollautomatisch Informationen über die Topographie, Struktur, Stufenhöhe, Rauheit, Verschleiß, Dickenvariation, Schichtdicke und viele weitere Parameter. Mehr als 600 Anlagen sind weltweit bei Unternehmen aus den Branchen Halbleiter, Mikrosystemtechnik, Automotive,... weiterlesen →

Umgesattelt: optische Messtechnik erobert die Automobilindustrie

Die moderne Automobilindustrie steht vor großen Herausforderungen bezüglich der immer härteren Qualitätsansprüchen ihrer innovativen Produkte. Die Eigenschaften dieser Produkte werden heute im Wesentlichen durch genau definierte Strukturen, Oberflächen und kleine Abmessungen der Komponenten bestimmt, die stetig überwacht werden müssen. Oberflächenmessgeräte von FRT decken diesen Informationsbedarf durch hochwertige, berührungslose und zerstörungsfreie Messtechnik - schneller und vielseitiger als mit... weiterlesen →

BGA- und Lötpunktvermessung mit optischer 3D-Oberflächenmesstechnik von FRT

Bei der prozessnahen Kontrolle von BGAs (Ball Grid Arrays) und Lötpunkten aber auch Leiterplatten und Wafern ist eine Vielfalt von Messaufgaben zu lösen. Auf Materialien, die hinsichtlich Struktur und Reflexionsvermögen stark variieren, sind unter anderem Höhen, Profile, Volumina, Rauheit sowie Ebenheit und Welligkeit zu messen. Die Untersuchung von BGAs und Lötpunkten auf Leiterplatten erfordert ein... weiterlesen →

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